| 編號(hào) | 中文名稱 | 英文名稱 |
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| GB/T 11072-1989
| 銻化銦多晶、單晶及切割片
| Indium antimonide polycrystal，single crystals and as-cut slices
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| GB/T 11297.6-1989
| 銻化銦單晶位錯(cuò)蝕坑的腐蝕顯示及測量方法
| Standard method for showing andmeasuring dislocation etch pits in indium antimonide single crystal
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| GB/T 18680-2002
| 液晶顯示器用氧化銦錫透明導(dǎo)電玻璃
| The transparent conductive glass withindium-tin oxide films used in liquid crystal display
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| GB/T 20510-2006
| 氧化銦錫靶材
| Indium-Tin Oxide target
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| GB/T 4948-2002
| 鋁-鋅-銦系合金犧牲陽極
| Sacrificial anode of Al-Zn-In series alloy
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| GB/T 20127.11-2006
| 鋼鐵及合金痕量元素的測定第11部分：電感耦合等離子體質(zhì)譜法測定銦和鉈含量
| Steel and alloy - Determination of trace element contents Part 11: Determination of indium and thallium content by inductively coupled plasma-mass spectrometric method
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| GB/T 20230-2006
| 磷化銦單晶
| Indium phosphide single crystal
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| GB/T 11297.7-1989
| 銻化銦單晶電阻率及霍耳系數(shù)的測試方法
| Test method for resistivity and hall coefficient indium antimonide single crystals
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| YS/T 569.8-2006
| 鉈中銦量的測定 (結(jié)晶紫苯萃取吸光光度法)
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| NF A06-819-1968
| 鋅的化學(xué)分析.銦的分光光度測定
| (CHEMICAL ANALYSIS OF ZINC. SPECTROPHOTOMETRIC DETERMINATION OF INDIUM.)
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| YS/T 372.22-2006
| 貴金屬合金元素分析方法 銦量的測定 EDTA 絡(luò)合滴定法
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| YS/T 230.6-1994(2005)
| 高純銦中鉈量的測定 羅丹明B吸光光度法
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| YS/T 276.2-1994(2005)
| 銦化學(xué)分析方法 苯芴酮-溴代十六烷基三甲基胺分光光度法測定錫量
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| YS/T 276.3-1994(2005)
| 銦化學(xué)分析方法 甲基綠分光光度法測定鉈量
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| YS/T 276.5-1994(2005)
| 銦化學(xué)分析方法 原子吸收分光光度法測定銅、鐵、鋅、鎘量
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| YS/T 257-1998(2005)
| 銦
| ()
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| YS/T 37.4-2007
| 高純二氧化鍺化學(xué)分析方法 電感耦合等離子體質(zhì)譜法測定鎂、鋁、鈷、鎳、銅、鋅、銦、鉛、鈣、鐵和砷含量
| High pure germanium dioxide-Determination of magnesium,aluminium,cobalt,nickel,copper,zinc,indium,lead,calcium,iron and arsenic content-Inductively coupled plasma mass spectrometric method
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| GB 11810-1989
| 醫(yī)用銦-113m 放射性核素發(fā)生器
| Medical indium-113m radionuclide generator
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| YS/T 264-1994(2005)
| 高純銦
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| YS/T 36.3-1992(2005)
| 高純錫化學(xué)分析方法 化學(xué)光譜法測定鈷、鋁、鋅、銀、銅、銦、鈣、鉍、鎳、金、鎂、鉛、鐵量
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| YS/T 373.10-1994(2005)
| 銀銅銦合金化學(xué)分析方法
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| YS/T 230.1-1994(2005)
| 高純銦中鋁、鎘、銅、鎂、鉛、鋅量的測定 化學(xué)光譜法
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| YS/T 230.2-1994(2005)
| 高純銦中鐵量的測定 化學(xué)光譜法
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| YS/T 230.3-1994(2005)
| 高純銦中砷量的測定 二乙氨基二硫代甲酸銀(Ag-DDC)法
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| YS/T 230.4-1994(2005)
| 高純銦中硅量的測定 硅鉬藍(lán)吸光光度法
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| YS/T 230.5-1994(2005)
| 高純銦中硫量的測定 氫碘酸、次磷酸鈉還原極譜法
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| YS/T 230.7-1994(2005)
| 高純銦中錫量的測定 苯芴酮-溴代十六烷基三甲胺吸光光度法
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| YS/T 276.1-1994(2005)
| 銦化學(xué)分析方法 水相鉬藍(lán)分光光度法測定砷量
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| YS/T 276.4-1994(2005)
| 銦化學(xué)分析方法 鉻天青S分光光度法測定鋁量
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| YS/T 276.6-1994(2005)
| 銦化學(xué)分析方法 原子吸收分光光度法測定鉛量
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| YS/T 520.8-2007
| 鎵化學(xué)分析方法 第8部分 銦含量的測定 乙基紫分光光度法
| Chemical analysis of gallium Part 8 Determination of indium content The ethyl violet spectrophotometric method
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| YS/T 520.12-2007
| 鎵化學(xué)分析方法 第12部分 鉛、銅、鎳、鋁、銦、鋅含量的測定 化學(xué)光譜法
| Chemical analysis of gallium Part 12 Determination of lead,copper,nickel,aluminum,indium and zinc content The spectrochemical method
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| JB/T 7777.1-2008
| 銀氧化錫氧化銦電觸頭材料化學(xué)分析方法 第1部分：碘量法測定錫量
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| JB/T 7777.2-2008
| 銀氧化錫氧化銦電觸頭材料化學(xué)分析方法 第2部分：EDTA容量法測定銦量
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| JB/T 7777.3-2008
| 銀氧化錫氧化銦電觸頭材料化學(xué)分析方法 第3部分：丁二酮肟分光光度法測定鎳量
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| JB/T 7777.4-2008
| 銀氧化錫氧化銦電觸頭材料化學(xué)分析方法 第4部分：PAN分光光度法測定鋅量
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| JB/T 7777.5-2008
| 銀氧化錫氧化銦電觸頭材料化學(xué)分析方法 第5部分：火焰原子吸收光譜法測定鎳、鋅和銦量
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| YS/T 244.8-2008
| 高純鋁化學(xué)分析方法 第8部分 結(jié)晶紫萃取光度法測定銦含量
| Chemical analysis methods of high purity aluminum Part 8:Determination of indium content by extraction-crystal violet photometric method
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| ASTM C 760-1990
| 核純級(jí)銀銦鎘合金的化學(xué)及光譜化學(xué)分析方法
| Test Methods for Chemical and Spectrochemical Analysis of Nuclear-Grade Silver-Indium-Cadmium Alloys
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| ASTM C 752-2003
| 核純級(jí)的銀銦鎘合金標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范
| Standard Specification for Nuclear-Grade Silver-Indium-Cadmium Alloy
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| BS ISO 11438-8-1994
| 鎳鐵合金.采用電熱原子吸收光譜測定法對(duì)微量元素含量的測定.銦含量的測定
| Ferronickel - Determination of trace-element content by electrothermal atomic absorption spectrometric method - Determination of indium content
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| DIN 50550-1985
| 鋅和鋅合金.用原子吸收光譜法測定銦和鉈
| Zinc and zinc alloys; determination of indium and thallium by atomic absorption spectrometry
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| DIN 50454-2-1994
| 半導(dǎo)體工藝材料的檢驗(yàn).Ⅲ-Ⅴ化合物半導(dǎo)體單晶錯(cuò)位腐蝕坑密度的測定.第2部分:銦磷化物
| Testing of materials for semiconductor technology - Determination of the dislocation etch pits density in monocrystals of III-V-compound semiconductors - Part 2: Indium phosphide
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| ISO 11438-8-1993
| 鎳鐵 用電熱原子吸收光譜法對(duì)痕量元素含量 第8部分:銦含量的測定
| Ferronickel; determination of trace-element content by electrothermal atomic absorption spectrometric method; part 8: determination of indium content
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| GB/T 4949-2007
| 鋁-鋅-銦系合金犧牲陽極 化學(xué)分析方法
| Chemical analysis methods for sacrificial anodes of Al-Zn-In system alloy
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| GB/T 15072.9-2008
| 貴金屬合金化學(xué)分析方法 金合金中銦量的測定 EDTA絡(luò)合返滴定法
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| 編號(hào) | 中文名稱 | 英文名稱 |
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